| QRM-MicroBar測(cè)試卡，QRM-MicroBar測(cè)試模體 |
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價(jià)格：1000 元(人民幣) | 產(chǎn)地：德國(guó) |
| 最少起訂量：1個(gè) | 發(fā)貨地：深圳 | |
| 上架時(shí)間：2021-01-08 15:01:23 | 瀏覽量：426 | |
深圳為爾康科技有限公司
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| 經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷商 | 公司類型：私營(yíng)獨(dú)資企業(yè) | |
| 所屬行業(yè)：專用儀器 | 主要客戶：生產(chǎn)廠家,科研機(jī)構(gòu),學(xué)校 | |
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內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點(diǎn)狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm. 作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展，我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO！ QRM QRM-MicroBar測(cè)試卡，QRM-MicroBar測(cè)試模體,Micro-CT高分辨率測(cè)試卡易于使用的幻像提供了兩個(gè)硅芯片，它們垂直對(duì)齊并放置在堅(jiān)固的塑料支架上。 兩種3 x 3mm?的芯片都具有數(shù)個(gè)線和點(diǎn)圖案，分別代表線和點(diǎn)的寬度為1至10 ?m。 此外，在芯片上還放置了鋸齒狀邊緣（L）和西門子星（放射狀星）。 芯片上的不同結(jié)構(gòu)以這種方式布置在芯片上，從而可以通過(guò)一次測(cè)量在圖像/芯片的中心以及外圍區(qū)域中確定空間分辨率。 芯片上的線型和點(diǎn)型：3 x 3mm? 結(jié)構(gòu)的深度在5和15 ?m之間變化。 QRM QRM-MicroBar測(cè)試卡，QRM-MicroBar測(cè)試模體,Micro-CT高分辨率測(cè)試卡技術(shù)指標(biāo) 基礎(chǔ)材料： 固體塑料（切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm） 直徑幻影： 5.2毫米 高度： 19毫米 硅芯片的措施： 3 x 3 x 0.66毫米 芯片上的結(jié)構(gòu)（分辨率）： 分別為1至10 ?m。500至50 LP / mm 芯片材質(zhì)： 硅 圖案對(duì)比 硅/空氣     As a further development of our popular MicroCT-BarPattern-Phantom we now present the BarPattern-NANO! The easy and convenient to use phantom provides two silicon chips, perpendicularly aligned and placed on a solid plastic support. Both 3 x 3 mm? chips exhibit several line and point pattern representing lines and points of 1 to 10 ?m width. In addition a slented edge (L) and a Siemens-star (actinomorphic star) are also placed on the chip. The different structures on the chip are arranged in such a way over the chip, that spatial resolution can be determined in the center as well as in the peripheral regions of the image/chip with a single measurement. Line- and Pointpattern on the chip: 3 x 3 mm? The depth of the structures varies within 5 and 15 ?m. Specifications Base material: solid plastic (chips placed on support in air -> 0.3 mm wall thickness) Diameter Phantom: 5.2 mm Height: 19 mm measures of silicon chip: 3 x 3 x 0.66 mm structures on the chip (resolution): 1 to 10 ?m, resp. 500 to 50 LP/mm Material of chip: silicon Contrast of pattern silicon / air |
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