| 連云港電熱鼓風(fēng)防爆烘箱BHD-101 |
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價(jià)格：9980 元(人民幣) | 產(chǎn)地：廣東深圳市 |
| 最少起訂量：1臺(tái) | 發(fā)貨地：深圳 | |
| 上架時(shí)間：2023-09-25 14:46:10 | 瀏覽量：164 | |
深圳市宏中格電氣科技有限公司
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| 經(jīng)營模式：生產(chǎn)加工 | 公司類型：私營有限責(zé)任公司 | |
| 所屬行業(yè)：干燥箱/干燥柜 | 主要客戶：化工廠，國防，變電站，石油，易燃易爆區(qū)域 | |
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| 聯(lián)系人:盧俊升 (先生) | 手機(jī):13823299529 |
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            半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
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