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X射線熒光光譜儀
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功能介紹
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專門針對(duì)金屬鍍層而開(kāi)發(fā)（含真空控制功能），對(duì)采集的光譜信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理、計(jì)算并報(bào)告顯示測(cè)量結(jié)果。
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儀器功能可選配：
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RoHS(含鹵素元素)檢測(cè)
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金屬元素成分分析檢測(cè)
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(配備真空系統(tǒng)針對(duì)輕元素的檢測(cè)， SDD進(jìn)口探測(cè)器，采樣率高，提高更好的測(cè)試分辨率，使測(cè)試結(jié)果更精確)
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※可自動(dòng)選擇適合的校準(zhǔn)曲線，測(cè)量更方便，更準(zhǔn)確
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※中英文界面自動(dòng)切換，并具有第三方語(yǔ)言訂制功能
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※自動(dòng)校準(zhǔn)儀器
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※自帶樣品材質(zhì)定性分析，防止手動(dòng)用戶選擇錯(cuò)誤曲線
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※多種報(bào)告形式打印
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※可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖
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※儀器測(cè)試參數(shù)及真空度實(shí)時(shí)顯示，所有掌控一目了然
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※獨(dú)有的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，保證X射線源的安全運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本。
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工作條件：
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● 工作溫度：15-30℃
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● 相對(duì)濕度：40%～70%
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● 電 源：AC :220V ±5V
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1.6. 技術(shù)性能及指標(biāo):
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1.6.1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；
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1.6.2. 元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；
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1.6.3. 測(cè)量時(shí)間：100-300秒(可調(diào))；
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1.6.4. RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其檢測(cè)限度高達(dá)1PPM；
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1.6.7. 能量分辨率為129±5電子伏特；
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1.6.8. 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃；
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1.6.9. 電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）；
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1.7.產(chǎn)品特點(diǎn)
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1.7.1EDX8300H是EDX8300E型的升級(jí)版，更好地應(yīng)對(duì)RoHS、無(wú)鹵等環(huán)保指令，配置了真空測(cè)試系統(tǒng)，增加了元素測(cè)試范圍，探測(cè)器配備SDD的測(cè)試系統(tǒng)，特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限，精確度提高了，同時(shí)在測(cè)試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復(fù)性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
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1.7.2整體結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì)，儀器美觀大方。
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1.7.3采用美國(guó)最新型的SDD探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。
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1.7.4采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)，有效提高峰背比，讓測(cè)量更精準(zhǔn)。
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1.7.5一鍵式自動(dòng)測(cè)試，使用更簡(jiǎn)單，更方便，界面更人性化。
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1.7.6七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換。
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1.7.7多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品級(jí)。
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1.7.8優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到更大提高，確保X射線源的運(yùn)行安全。
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1.7.9獨(dú)有的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的安全可靠運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本。
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1.7.10多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。
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1.7.11專用真空測(cè)試軟件，是否抽真空可自由選擇，真空度實(shí)時(shí)顯示，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì)，界面友好，操作簡(jiǎn)便，所有控制均在輕點(diǎn)鼠標(biāo)之間。
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1.7.12本機(jī)采用USB2.0接口，有效保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。
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1.7.13獨(dú)有的全自動(dòng)真空系統(tǒng),徹底屏蔽空氣對(duì)輕元素測(cè)試的影響,極大提高了輕元素的檢出限，同時(shí)也擴(kuò)大了檢測(cè)范圍。
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1.7.14一體化真空腔體設(shè)計(jì)，有效地保證了符合測(cè)試要求的真空度，同時(shí)提高了設(shè)備的可維性。
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1.7.15抽真空測(cè)試和不抽真空測(cè)試轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單，方便客戶使用；同時(shí)開(kāi)蓋即解除真空，安全、簡(jiǎn)單實(shí)用。
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2.儀器硬件部分主要配置
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2.1 SDD電制冷探測(cè)器:（最新型探測(cè)器）
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2.1.1. SDD電制冷探測(cè)器；分辨率：129±5e電子伏特
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2.1.2. 放大電路模塊:對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè)；把探測(cè)采集的信息,進(jìn)一步放大。
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2.2 X射線激發(fā)裝置(薄鈹窗光管）:
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2.2.1. 燈絲電流輸出：1mA；
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2.2.2 .屬于半損耗型部件，使用壽命大于5000小時(shí)
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2.3 高壓發(fā)射裝置:
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2.3.1. 電壓輸出： 50kV；
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2.3.2. 最小5kv可控調(diào)節(jié)
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2.3.3. 自帶電壓過(guò)載保護(hù)
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2.4 一體化真空系統(tǒng)
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2.4.1 具有低震動(dòng)、低噪音、自保護(hù)及抽速快等優(yōu)良性能的真空泵系統(tǒng)；
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2.4.2 幾何抽速：60 L/min（50Hz）
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2.4.3 極限壓力：6.7×10-2 Pa
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2.5 多道分析器:
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2.5.1. 將采集的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),并將處理結(jié)果提供給上位機(jī)軟件；
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2.5.2 通道數(shù)： 4096；
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2.5.3 包含信號(hào)增強(qiáng)處理功能；
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2.6光路過(guò)濾模塊
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2.6.1 降低X射線光路發(fā)送過(guò)程中的干擾，保證探測(cè)器接收信號(hào)準(zhǔn)確；
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2.6.2 將準(zhǔn)直器與濾光處整合；
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2.7 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換模塊
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2.7.1 多達(dá)7種選擇，口徑分別為8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。
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2.8 濾光片自動(dòng)切換模塊
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2.8.1五種濾光片的自由選擇和切換。
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2.9 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合模塊
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2.9.1 多達(dá)幾十種的準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合。
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2.10 工作曲線自動(dòng)選擇模塊
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2.10.1 自動(dòng)選擇工作曲線，摒棄手動(dòng)選擇，避免人為操作失誤，將自動(dòng)化和智能化
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演繹得更完美，使操作更人性，更方便。
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3.2金屬合金元素分析軟件CA2008(可選)
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3.2.1 元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；
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3.2.2 一次可同時(shí)分析24個(gè)元素；
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3.2.3 分析檢出限可達(dá)1PPM；
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3.2.4 含量分析范圍一般為1ppm—99.9%；
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3.2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計(jì)算方法；
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3.2.6 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％；
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3.2.7 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1％；
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3.2.8 能量分辨率為129±5eV；
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3.2.9 軟件自帶多種圖像處理和計(jì)算方法；
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3.2.10 應(yīng)用領(lǐng)域：合金（如不銹鋼、銅合金、鋁合金等）中所含元素含量分析（如Cu、 Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）；
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3.3 鍍層厚度測(cè)試軟件NSMeasure（可選）
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3.3.1 元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；
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3.3.2 一次可同時(shí)分析3層以上鍍層；
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3.3.3 分析檢出限可達(dá)0.01μm；
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3.3.4 分析厚度一般為0.1μm到30μm之間；
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3.3.5 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；
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3.3.6 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；
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3.3.7 配置小孔準(zhǔn)直器，測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi)；
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3.3.8 探測(cè)器能量分辨率為149±5eV；
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3.3.9 應(yīng)用領(lǐng)域:金屬電鍍層厚度的測(cè)量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等；
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3.4 礦石 土壤成分分析
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3.4.1 元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U），可快速分析汞（Hg）、鉻（Cr）、鉛(Pb)、鎘 (Cd)和類金屬砷(As)等重金屬元素， 以及礦石 土壤里面所包含的的鋅(Zn)、鎂（Mg）、銅(Cu)、鎳(Ni)、硅（Si）、錳（Mn）、鐵（Fe）、鈣（Ca）等 多種成分。含量分析范圍一般為2ppm—99.9%分析，分析檢出限可達(dá)2PPM。
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