| 日本原裝進(jìn)口小坂KOSAKA臺(tái)階儀ET200A |
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日本原裝進(jìn)口小坂KOSAKA臺(tái)階儀ET200A
臺(tái)階儀技術(shù)參數(shù):
最大試片尺寸 Φ200mm×高度50mm
重現(xiàn)性 1σ ≤ 1nm 測(cè)定范圍 Z:600um X:100mm 分解能 Z:0.1nm X:0.1um 測(cè)定力 10UN~500UN (1mg-50mg) 載物臺(tái) Φ160mm, 手動(dòng)360度旋轉(zhuǎn)
KOSAKA臺(tái)階儀概述:● ET200A臺(tái)階儀適用于二次元表面納米等級(jí)段差臺(tái)階測(cè)定、粗糙度測(cè)定; ● ET200A臺(tái)階儀擁有高精度.高分解能,搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu),穩(wěn)定的測(cè)量過(guò)程及微小的測(cè)定力可對(duì)應(yīng)軟質(zhì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量; ● 該型號(hào)臺(tái)階儀采用直進(jìn)式檢出器,重復(fù)性好。
ET200A能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A配備了各種型號(hào)探針,提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì),可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài),更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。
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